El microscopio de fuerza atómica o Atomic Forcé Microscopy (AFM) Cypher-ES de Asylum Research (Oxford instruments) es un equipo utilizado en la caracterización topográfica de muestras orgánicas e inorgánicas tanto en ambiente húmedo como en seco, permitiendo obtener imágenes en alta resolución y generar información sobre las propiedades físicas, mecánicas, eléctricas, magnéticas y electroquímicas de las muestras, despendiendo del tipo de punta y módulo que se utilice. Adicionalmente permite variar la temperatura de la muestra hasta los 120 °C. su principio de operación consiste en el uso de un cantiléver cuya punta (tip) posee un diámetro de unos pocos nanómetros (7 – 25 nm) el cual realiza un barrido línea de la superficie de la muestra generando un perfil. La imagen obtenida será producto de la unión de los perfiles barriendo áreas que van desde 30 x 30 micras hasta 10 x 10 nanómetros.

Servicios:

1. Caracterización topográfica, determinación de rugosidad y tamaño de grano.
2. Caracterización dimensional de nanopartículas.

Laboratorio de Síntesis y caracterización de Materiales a Nanoescala